简明地质束分析技术 扫描电镜和X射线粉末衍射

1 (p1): 1 扫描电镜
2 (p2): 1.1 概述
6 (p3): 1.2 扫描电镜基本原理
7 (p4): 1.2.1 一次电子束在固体靶表面附近的散射作用
8 (p5): 1.2.2 二次电子与二次电子像
10 (p6): 1.2.3 背散射电子与背散射电子像
12 (p7): 1.2.4 次生特征X射线与能谱
19 (p8): 1.3 扫描电镜仪器结构
19 (p9): 1.3.1 电子枪
21 (p10): 1.3.2 样品台
23 (p11): 1.3.3 真空系统
24 (p12): 1.3.4 二次电子检测器
26 (p13): 1.3.5 背散射电子检测器
27 (p14): 1.3.6 X射线能量检测器
31 (p15): 1.4 扫描电镜在地学中的运用
31 (p16): 1.4.1 运用范畴
32 (p17): 1.4.2 样品准备
34 (p18): 1.4.3 运用示例
41 (p19): 2 X射线粉末衍射技术
41 (p20): 2.1 概述
41 (p21): 2.1.1 X射线发展简史
42 (p22): 2.1.2 X射线粉末衍射技术特点及主要应用领域
43 (p23): 2.2 X射线粉末衍射技术分析法的基本原理
43 (p24): 2.2.1 X射线的性质
44 (p25): 2.2.2 X射线的获得
46 (p26): 2.2.3 X射线光谱
50 (p27): 2.2.4 X射线衍射的几何条件
54 (p28): 2.2.5 X射线的衍射线强度、检测方法及防护
62 (p29): 2.3 多晶X射线的研究方法
63 (p30): 2.3.1 粉末或多晶衍射原理
64 (p31): 2.3.2 德拜法
65 (p32): 2.3.3 衍射仪法
69 (p33): 2.4 X射线粉末衍射方法的应用
69 (p34): 2.4.1 概述
70 (p35): 2.4.2 物相分析
83 (p36): 2.5 全岩物相分析应用举例
95 (p37): 附录
95 (p38): 附录1 常见矿物的扫描电镜X射线能谱图
101 (p39): 附录2 元素的物理性质
105 (p40): 附录3 X射线衍射分析用X射线管的特征波长及有关数据
106 (p41): 附录4 一些纯物质的衍射数据
108 (p42): 附录5 典型矿物的X射线粉末衍射数据
115 (p43): 参考文献