Основы кристаллографии
Е.В. Чупрунов, А.Ф. Хохлов, М.А. Фаддеев
Последовательное изложение основ геометрической кристаллографии - аналитической геометрии кристаллических решеток, теории точечных групп симметрии, правильных систем точек, граней и других симметричных объектов, решеток Бравэ, пространственных групп симметрии, теории плотнейших упаковок. Рассматриваются также основы кристаллохимии и основные представления геометрической теории дефектов в кристаллах.
Catégories:
Année:
2004
Editeur::
Физматлит
Langue:
russian
Pages:
500
ISBN:
5940520601
Fichier:
PDF, 23.25 MB
IPFS:
,
russian, 2004